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      0592-5631009

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      半導體測試設備

      簡介:

      非接觸方塊電阻測試儀

      產品詳情

      非接觸無損方塊電阻測試儀

      產地:美國

       

      原理和技術:

      非接觸方塊電阻測量儀使用渦電流(Eddy Current)的測試原理。渦電流(也稱為感應電流)可產生一個磁場,當磁場與導電材料接觸時,會在材料中感應到渦流。根據感應渦流的電流大小,可以計算得到該材料的面電阻(方塊電阻)。

       

      該技術的優勢:

      1.是一種非接觸、無損的測量方式,不破壞材料

      2.可以測量密封在絕緣層內的導電層;

      3.每秒采樣次數高達數萬次,測量速度快;

       

      測量范圍:

      配備不同的測試頭可以測量不同范圍的面電阻。

      10X測試頭:5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

      1X測試頭:0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ;

      0.1X測試頭:0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

      0.01X測試頭:0.005 ~ 100(Ohms/sq);

       

      應用領域:

      - 防靜電/導電薄膜;

      - 天線;

      - 汽車;

      - 電池;

      - 裝飾薄膜/紙張;

      - 顯示器;

      - 花線電路和柔性電路板;

      - 電鍍;

      - 玻璃窗;

      - 金屬化電容用箔;

      - 金屬化標簽;

      - 微波感應器;

      - 包裝;

      - 雷達吸波材料;

      - 反射和反光材料;

      - 半導體;

      - 太陽能;

      - 透明導電薄膜;

       

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